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RTX50系显卡曝致命缺陷：要害区域过热危及使用寿命

2025-04-28 15:05:38
播报04月28每日电讯 知名硬件剖析师 Igor Wallossek 旗下的 Igor's Lab 近日宣布报告，揭示了英伟达RTX 50 系列显卡可能保存一个潜在的硬件缺陷：要害供电区域的温度过高问题。如果问题得不到解决，这可能威胁到这些新一代显卡的稳定性和恒久使用寿命。

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Igor's Lab 的团队通过热成像和细致测试，在显卡 PCB 上，特别是在电压调理�？椋╒RMs）四周，发明了局部的高温热点。剖析认为，供电子系统中的电子元件（如 FETs、电感线圈等）为了追求紧凑的 PCB 设计，被安排得过于靠近，牺牲了散热空间，加剧了热密度。

测试数据显示令人担心。在一项比照测试中，PNY RTX 5070 和 Palit RTX 5080 Gaming Pro OC 显卡的 VRM 区域温度体现纷歧。RTX 5080 的 VRM 区域测得温度为 80.5°C，而 RTX 5070 在同一区域的温度飙升至惊人的 107.3°C，远超恒久宁静运行的规模。这可能与 RTX 5070 相对较短的 PCB 设计导致供电元件更集中有关。

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报告指出，这并非个例，该缺陷似乎影响了基于目今设计的所有 RTX 50 系列 GPU。Igor's Lab 推测，问题泉源可能在于英伟达提供应其相助厂商（AIB）的散热设计指导保存疏漏，未能充分考虑理想散热条件之外的情况、PCB 功率损耗及元件在高温下的异常行为。

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如果这些问题未能解决，显卡的供电元件（如电容、MOSFETs）在连续高温下会加速老化，可能导致电压不稳定、瓦解、焊点劣化，甚至缩短显卡寿命，提前爆发故障。这令人联想到 RTX 4090 电源接口熔毁事件，但这次的问题可能根植于 PCB 设计自己。

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